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    認(rèn)證級(jí)雷電間接效應(yīng)單次多次回?fù)魷y(cè)試設(shè)備廠家

    如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
    產(chǎn)品名稱: 認(rèn)證級(jí)雷電間接效應(yīng)單次多次回?fù)魷y(cè)試設(shè)備廠家
    產(chǎn)品型號(hào): DO160S22
    產(chǎn)品展商: 3ctest
    產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

    簡(jiǎn)單介紹

    本套機(jī)載設(shè)備雷電間接效應(yīng)試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)完全滿足RTCA DO-160G版標(biāo)準(zhǔn),可用于對(duì)機(jī)載設(shè)備進(jìn)行雷電瞬態(tài)感應(yīng)測(cè)試,可滿足空客、波音等航空公司的測(cè)試要求。同時(shí)可滿足新版MIL-STD-461G CS117閃電引起的**設(shè)備電纜傳導(dǎo)敏感性試驗(yàn),以及新GJB8848雷電傳導(dǎo)耦合注入試驗(yàn)。本套系統(tǒng)可廣泛用于航天、航空、車輛、艦船、以及各種**裝備的電子系統(tǒng)的雷電間接效應(yīng)瞬態(tài)感應(yīng)測(cè)試,也可用于其他相關(guān)研究試驗(yàn)。 如有需求資料及測(cè)試請(qǐng)聯(lián)系梁生13651165654


    認(rèn)證級(jí)雷電間接效應(yīng)單次多次回?fù)魷y(cè)試設(shè)備廠家  的詳細(xì)介紹

    如有需求資料及測(cè)試請(qǐng)聯(lián)系梁生13651165654


    概述:

    飛機(jī)在強(qiáng)對(duì)流天氣飛行時(shí),容易受到不同帶電云層產(chǎn)生的雷電襲擊,在飛機(jī)上形成較大的雷電流和雷電壓,從而有可能致使機(jī)載電子設(shè)備故障、飛機(jī)失控,甚至?xí)?dǎo)致飛機(jī)機(jī)身起火等嚴(yán)重的意外事故。

    本套機(jī)載設(shè)備雷電間接效應(yīng)試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)完全滿足RTCA DO-160G版標(biāo)準(zhǔn),可用于對(duì)機(jī)載設(shè)備進(jìn)行雷電瞬態(tài)感應(yīng)測(cè)試,可滿足空客、波音等航空公司的測(cè)試要求。同時(shí)可滿足新版MIL-STD-461G CS117閃電引起的**設(shè)備電纜傳導(dǎo)敏感性試驗(yàn),以及新GJB8848雷電傳導(dǎo)耦合注入試驗(yàn)。本套系統(tǒng)可廣泛用于航天、航空、車輛、艦船、以及各種**裝備的電子系統(tǒng)的雷電間接效應(yīng)瞬態(tài)感應(yīng)測(cè)試,也可用于其他相關(guān)研究試驗(yàn)。

    符合標(biāo)準(zhǔn)RTCA DO-160 Section 22 、SAE ARP5412 、MIL-STD-461G(cs117) 、AECTP-250 、GJB 8848


    特點(diǎn):
    一臺(tái)機(jī)器可以實(shí)現(xiàn)多個(gè)波形及多種測(cè)試功能
    2臺(tái)主機(jī)可以完成6類8種波形的輸出
    可以完成單次回?fù)?、多次回?fù)簟⒁约岸嗝}沖群的測(cè)試功能
    試驗(yàn)電壓和間隔時(shí)間可以任意設(shè)置,可編排測(cè)試流程
    采用觸摸屏控制,全自動(dòng)智能控制

    模塊化設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),可選配多種波形模塊


    雷電間接效應(yīng)由于波形眾多、測(cè)試方法復(fù)雜,因此根據(jù)波形和試驗(yàn)方法將試驗(yàn)設(shè)備分為2套主機(jī)系統(tǒng):包括LSS160(實(shí)現(xiàn)W1,W4和W5的所有波形測(cè)試)和ETS160(實(shí)現(xiàn)W2,W3和W6的所有波形測(cè)試)。其中LSS160分為L(zhǎng)SS160SS(滿足插腳注入和線纜束單次回?fù)粼囼?yàn))和LSS160MS(滿足線纜束多次回?fù)粼囼?yàn)),ETS160系統(tǒng)包括ETS160MB和相應(yīng)的可選模塊。


    設(shè)備主機(jī)

    輸出波形參數(shù)

    功能、特點(diǎn)

    LSS160SS

     

    插腳注入試驗(yàn):

    W4:6.4/69us(5Ω)

    電壓:50-2500V;電流:10-500A

    W5A:40/120(1Ω)

    電壓:50-3000V;電流:50-3000A

    W5B:50/500(1Ω,選配)

    電壓:50-1900V;電流:50-1900A

    可滿足W4,W5A,W5B波形PIN注入試驗(yàn)的等級(jí)1-5測(cè)試。

    測(cè)試等級(jí)1時(shí)需要配合LSU-1低等級(jí)波形衰減模塊使用

    標(biāo)配W5B波形模塊輸出為1000V/1000A,可選配*大輸出1900V/1900A的PIN注入波形選配模塊

    電纜束試驗(yàn)(單次回?fù)?:

    W1:6.4/69us(電流波)

    電流:100-3500A

    W4:6.4/69us(電壓波)

    電壓:50-2500V

    W5A:40/120(電流波)

    電流:150-10000A(2T:1T)

    W5B:50/500(電流波,選配)

    電流:150-5000A(2T:1T)

     

    可滿足W1,W4,W5A,W5B波形電纜束感應(yīng)試驗(yàn)的等級(jí)1-5測(cè)試。

    標(biāo)配W5B波形模塊*大輸出為1000V/1000A

    電纜束試驗(yàn)需要配合LCT-1和LVT-1耦合變壓器使用。

    可選配W5B波形模塊*大進(jìn)行電纜束5kA測(cè)試(2T:1T)

    LSS160MS

     

    電纜束試驗(yàn)(多次回?fù)?:

     

    W1:6.4/69us(電流波)

    首波: 50-3500A

    后續(xù)波:25-1000A

    W4:6.4/69us(電壓波)

    首波:25-2500V

    后續(xù)波:12.5/800V

    W5A:40/120(電流波)

    首波:60-5000A

    后續(xù)波:30-2000A

    W5B:50/500(電流波,選配)

    電流:60-3000A

    電流:30-1000A

     

    需要配合LSS160SS發(fā)生器一起使用

    滿足W1,W4,W5A波形電纜束多次回?fù)舻牡燃?jí)1-5測(cè)試。

    可以實(shí)現(xiàn)輸出*多24個(gè)脈沖的連續(xù)輸出。

    電纜束多次回?fù)粼囼?yàn)需要配合LCT-1和LVT-1耦合變壓器使用。

    W5B的等級(jí)4、5屬于選配模塊

    ETS160MB

     

    插腳注入試驗(yàn):

    W3:1MHz(25Ω)

    電壓:100-3200V;電流:4-128A

    完全滿足W3-1MHz的插腳注入試驗(yàn)等級(jí)1-5的測(cè)試。

     

    電纜束試驗(yàn)(單次回?fù)?:

    W2:0.1/6.4us(電壓波)

    電壓:50-2000V

    W3:1MHz/10MHz(電壓波)

    電壓:100-4000V

     

    完全滿足W2、W3(1MHz、10MHz)的電纜束試驗(yàn)等級(jí)1-等級(jí)5的測(cè)試。

    W3-1MHz的波形選配模塊分為2個(gè)模塊,1個(gè)用于低等級(jí)試驗(yàn),而另一個(gè)用于高等級(jí)試驗(yàn)。

    電纜束試驗(yàn)(多次回?fù)?:

     

    W2:0.1/6.4us(電壓波)

    首波:50-2000V

    后續(xù)波:25-1000V

    W3:1MHz/10MHz(電壓波)

    首波:100-4000V

    后續(xù)波:50-2000V

    完全滿足W2、W3(1MHz、10MHz)的電纜束多次回?fù)粼囼?yàn)等級(jí)1-等級(jí)5的測(cè)試。

    W3-1MHz的波形選配模塊分為2個(gè)模塊,1個(gè)用于低等級(jí)試驗(yàn),而另一個(gè)用于高等級(jí)試驗(yàn)。

    電纜束試驗(yàn)(多脈沖群):

     

    W3:1MHz/10MHz(電壓波)

    電壓:50-3000V

    W6:0.25/4us(電流波)

    電流:5-160A

    完全滿足W2、W3(1MHz、10MHz)的電纜束多次回?fù)粼囼?yàn)等級(jí)1-等級(jí)5的測(cè)試。

    W3-1MHz的波形選配模塊分為2個(gè)模塊,1個(gè)用于低等級(jí)試驗(yàn),而另一個(gè)用于高等級(jí)試驗(yàn)。


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